Semiconductor Wafer Die Yield & DPW Kostnad beräkningsmotor (Murphy modell

Hur du använder denna kalkylator

Ange ditt Silicon Wafer Diameter (mm) — 300 mm (12-inch Modern Advanced Node Standard), 200 mm (8-inch Legacy / Automotive Standard), 150 mm (6-inch Compound / GaN / SiC), Die Längd (mm) (e.g. t.ex. 12.0), Die Width (mm) (e.g. t.ex. 10.0), Wafer Edge Exclusion Zone (mm), Cleanroom Defect Densitet (D_0 [Defects / cm²]), Semiconductor Yield Modell — Murphy's Modell (Industry Standard Triangular Defect Distribution), Poisson Modell (Simple Uniform Slumpmässig Defect Distribution), Seeds Modell (Exponential Defect Clustering), Processed Wafer Fabrication Kostnad ($ / Wafer). Resultaten uppdateras omedelbart när du ändrar ett värde.

Formeln

Semiconductor Manufacturing \& Murphy Yield equations: Effective Radie (r_eff) = d_wafer2 - d_edge

Brutto Dies Per Wafer (DPW) = π · r_eff^2A_die - 2π · r_eff2 · A_die

Murphy Die Yield (Y) = 1 - e^-A_die · D_0A_die · D_0^2

Netto Good Dies = Brutto DPW × Y

Kostnad per Good Die (\) = Processed Wafer KostnadNetto Good Dies

Räkneexempel

Praktiskt räkneexempel för Semiconductor Wafer Die Yield & DPW Kostnad beräkningsmotor (Murphy modell): Anta att en användare vill göra en noggrann uppskattning inom Ingenjörskonst & Teknik. Användaren fyller i Silicon Wafer Diameter (mm) med värdet 300och anger Die Längd (mm) till 12 . Efter att ha klickat på Beräkna bearbetar Semiconductor Wafer Die Yield & DPW Kostnad beräkningsmotor (Murphy modell) informationen på en bråkdel av en sekund. Verktyget presenterar en fullständig specifikation med exakta delsummor och visuella diagram. Detta gör att användaren omedelbart ser konsekvenserna av sina val utan att behöva genomföra komplicerade manuella uträkningar eller bygga egna kalkylblad. Resultatet kan därefter sparas som PDF, exporteras till CSV eller delas direkt med kollegor och familj för vidare diskussion och planering.

Förstå dina resultat

Använd resultatet som startpunkt och validera det i din specifika kontext. Testa två eller tre varianter för att förstå känsligheten. För viktiga beslut jämför med en sekundär källa eller expert.